意法、普兴SiC新进展:8吋、3300V
来源:第三代半导体风向 发布时间:2023-04-25 分享至微信

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前段时间,瀚天天成公布了8吋SiC外延(.点这里.),近日,国内外2家SiC外延企业也取得了重大进展:

● 普兴电子:6英寸碳化硅外延月产能大幅提升,3300V产品已完成研发;

●意法半导体:8英寸SiC外延片的表面缺陷密度、厚度以及掺杂均匀性均通过了验证,与6英寸外延片相当。

普兴电子:
6吋产能提升,3300V研发成功

4月24日,据中国电科官微消息,近日,中电科6英寸碳化硅外延片产业化工作取得重大进展,6英寸中高压碳化硅外延片月产能力实现大幅提升。

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据悉,他们完成了6英寸3300V碳化硅外延材料研发。目前正积极与国产设备厂商合作开发生产装备,推动碳化硅核心装备国产化。

去年11月,普兴电子新的外延材料产业基地第一片硅外延和碳化硅外延已相继“出炉”,后续将进行新品全尺寸检测评估并向客户提供验证样片。

该新产业基地建设项目于2021年9月启动,项目总投资金额为16.7亿元,一期项目投产后,将新购置各类外延生产及清洗检验设备共392台(套),预计可达到年产300万片8英寸硅外延片、36万片6英寸碳化硅外延产品的生产能力。

意法半导体:
8英寸SiC外延片通过验证

近日,意法半导体发布文献称,他们在8英寸SiC外延方面取得了最新成果。

据介绍,该外延使用了意法半导体自己的8吋SiC 衬底,衬底是通过多线切割,通过CMP后的厚度为 500μm。

实验结果表明,意法半导体6吋和8吋SiC外延片的总可用面积分别为98.6%和95.8%,非常接近。

同时,该8吋外延片的表面缺陷密度、厚度以及掺杂均匀性均通过了验证,与6英寸外延片相当。不过,三角形缺陷的数量要高得多,特别是在晶圆的边缘,这方面还需进一步优化。

2个尺寸外延片提取的缺陷密度比较

这2种尺寸的外延层厚度变化都小于最大外延层厚度的5%(即小于0.3微米),掺杂均匀性分别为 2.0% 和 1.9%
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注:本文来源企业官网及相关媒体,仅供信息参考,不代表“行家说三代半”观点。

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