意法、普兴SiC新进展:8吋、3300V
来源:第三代半导体风向 发布时间:2023-04-25 分享至微信
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4月24日,据中国电科官微消息,近日,中电科6英寸碳化硅外延片产业化工作取得重大进展,6英寸中高压碳化硅外延片月产能力实现大幅提升。
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近日,意法半导体发布文献称,他们在8英寸SiC外延方面取得了最新成果。
据介绍,该外延使用了意法半导体自己的8吋SiC 衬底,衬底是通过多线切割,通过CMP后的厚度为 500μm。
实验结果表明,意法半导体6吋和8吋SiC外延片的总可用面积分别为98.6%和95.8%,非常接近。
同时,该8吋外延片的表面缺陷密度、厚度以及掺杂均匀性均通过了验证,与6英寸外延片相当。不过,三角形缺陷的数量要高得多,特别是在晶圆的边缘,这方面还需进一步优化。
2个尺寸外延片提取的缺陷密度比较
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