中导光电近日宣布，成功获得国内领先的功率半导体客户订单，提供其创新的8英寸碳化硅（SiC）晶圆缺陷检测设备NanoPro-1XX。

相比6英寸碳化硅晶圆，8英寸晶圆尺寸更大，对检测精度和工艺要求也更高。中导光电专注于研发，力求在纳米级缺陷检测领域达到更高精度，确保生产线的高效运作。该设备能够全程覆盖碳化硅芯片的制造过程，为客户提供全面的质量保障。

自2006年成立以来，中导光电致力于半导体晶圆和显示面板的检测设备研发，凭借卓越的技术和创新，迅速在国内市场占据一席之地。公司产品涵盖“无图形”和“有图形”晶圆检测领域，检测灵敏度达到纳米级，已经成功进入多条产线。

此次订单的获得不仅体现了中导光电在碳化硅检测设备领域的技术优势，也为国内半导体行业提供了更多高端技术支持，推动了国产半导体设备的不断发展。