Takano亮相SEMICON Taiwan 2024，展出其先进的WM系列晶圆检测设备。WM-7SR与WM-10R分别针对不同尺寸与精度的晶圆检测需求，前者覆盖79纳米（可选61纳米）至2-8寸晶圆，后者则针对48纳米及4-12寸晶圆。

这两款设备凭借高灵敏度和多尺寸适应性，在半导体产业中广泛应用，确保晶圆品质卓越。

Takano凭借三十年专业经验，为中国台湾晶圆制造商提供定制化高效检测方案。WM系列采用顶尖技术，能精准识别48纳米至5微米级缺陷，适用于制程控制、设备验证及研发等各环节。

其日本制造的高品质标准，结合低维护成本和空间优化设计，为用户带来卓越性价比。

操作界面友好，自动校正与直观软件助力快速上手，无论是升级替换还是全新引入，用户都能轻松驾驭。全球超800台安装实绩及中国台湾本地技术支持，确保设备稳定运行，助力企业提升竞争力。