三星HBM未通过英伟达测试结果:系发热问题
来源:ictimes 发布时间:2024-05-26 分享至微信

三星的高频宽记忆体(HBM)芯片在英伟达的测试中遭遇挫折,原因指向发热问题。自去年起,三星就一直在努力使HBM3和HBM3E产品通过英伟达的严格测试。


三位消息人士透露,三星最近提交的8层和12层HBM3E芯片在4月份的测试中未能达到英伟达的标准。这一结果引发了业界和投资者的担忧,担心三星可能在与竞争对手SK海力士和美光的竞争中进一步落后。


三星在声明中表示,HBM是一款定制产品,需要根据客户需求进行优化。该公司正与客户紧密合作,以优化其产品。然而,英伟达对此事未予置评。


HBM作为动态随机存取记忆体(DRAM)的一种,通过垂直堆叠芯片以节省空间和降低功耗,特别适用于处理AI应用产生的大量数据。随着AI需求的增长,HBM芯片市场预计今年将实现大幅增长。


分析师指出,三星近期更换半导体部门负责人的决定可能反映了公司对在HBM领域落后地位的担忧。然而,KB证券研究部门主管Jeff Kim表示,虽然市场对三星作为全球最大记忆体芯片制造商寄予厚望,但专业产品如HBM需要一定时间来满足客户的性能要求。


值得注意的是,尽管三星尚未成为英伟达的HBM3供应商,但它已成功向AMD供货,并在今年第一季度通过了AMD MI300系列的验证。


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