国内碳化硅技术迎来两大新突破
来源:ictimes 发布时间:2024-05-01 分享至微信

近日,碳化硅技术领域取得两大新进展。浙江大学杭州科创中心与乾晶半导体联合实验室成功制备出厚度达100mm的6英寸超厚碳化硅单晶,该单晶采用提拉式物理气相传输法生长,展现了良好的结晶质量和电阻率。


另一方面,南京大学研发出大尺寸碳化硅激光切片技术,有效解决了传统切割技术中的高材料损耗问题,并大幅提升了生产效率。这项技术对于提高碳化硅器件制造技术水平具有重要意义。相比传统线锯技术,激光切片技术能显著减少材料损耗,提高产片率,并且具有更短的切割时间。


碳化硅(SiC)作为一种关键的战略材料,对安全、全球汽车产业和能源产业都至关重要。南京大学研发的这项新技术,针对碳化硅单晶加工过程中的切片性能进行了重要改进,能够有效控制晶片表层裂纹损伤,从而提高后续薄化、抛光的加工水平。


南京大学研发的激光切片设备不仅适用于碳化硅晶锭的切割,还适用于氮化镓、氧化镓、金刚石等材料的激光加工,市场应用前景广阔。


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