泰瑞达引领系统级测试解决方案,布局先进封装
来源:ictimes 发布时间:2024-10-16 分享至微信

近日,泰瑞达技术专家Nichle Su分享了半导体系统级测试(SLT)的重要性。


随着高复杂、高精密度的先进封装芯片需求激增,SLT测试设备需求也随之上升。SLT自动化测试设备针对已封装好的半导体芯片进行系统级测试,以确保其在实际应用中的性能和功能表现符合规格。


Nichle指出,先进制程节点与先进封装技术大量使用复杂的半导体IP来设计高端芯片,导致系统级测试的责任越来越大,成为验证芯片制造、设计与降低生产成本的关键。


与ATE测试相比,SLT测试需要更长的时间和更高的软硬件整合条件,因此多用于高单价、高运算效能的芯片测试。


先进封装技术如2.5D、3D IC等可以将不同的裸晶封装成一个大型芯片,而SLT测试则能够模拟终端应用情境,执行功能测试,验证芯片在实际应用中的表现。


目前,SLT测试机台常用于测试智能手机运算处理器、云端数据中心高功能运算芯片以及汽车用芯片等领域。


值得一提的是,HPC芯片是近年来SLT机台需求上升的重要推手。数据中心的使用场景需要大量数据运算,对SLT机台提出了更高的要求。


泰瑞达推出的SLT机台具备弹性化的设计能力,可以在有限的空间内发挥传统SLT机型70倍的测试容量及实际产能,同时支持在同一系统量产不同的产品。

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