安捷伦杂讯分析仪可量测闪烁杂讯及RTN
来源:爱集微 发布时间:2014-04-08 分享至微信

台湾安捷伦科技电子量测事业群总经理张志铭表示,安捷伦将创新量测演算法纳入E4727A分析仪中,提供业界更快的量测速度,并且大幅提高客户投资报酬率。

闪烁杂讯一向被视为重要的电子元件特性,对于主动混频器、压控振荡器、分频器、运算放大器和比较器的效能有显著影响,而这些元件正是射频(RF)、类比/混合(Analog/Mixed)讯号,及高速有线通讯应用的基础建构要件。闪烁杂讯和RTN也是半导体材料与制程的敏感指标。随半导体技术不断推陈出新,业界更迫切须要对低频杂讯进行量测。

新的先进低频杂讯分析仪是为了因应新挑战而设计,其独特的模组化设计有助于降低系统杂讯,并超低频率下提供各项量测功能,提供市场理想的高电压/高电流处理能力。

安捷伦网址:www.agilent.com

[ 新闻来源:爱集微,更多精彩资讯请下载icspec App。如对本稿件有异议,请联系微信客服specltkj]
存入云盘 收藏
举报
全部评论

暂无评论哦,快来评论一下吧!