爱德万推出SiConic解决方案,应对复杂SoC设计挑战
来源:赵辉 发布时间:2025-02-28
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半导体测试设备供应商爱德万测试(Advantest)推出全新自动化芯片验证解决方案SiConic,专为应对日益复杂的先进系统单芯片(SoC)设计。
该方案已获多家业界领先的IC客户采用,并计划在美国加州圣荷西DVCon大会上首次亮相。
随着SoC设计日趋复杂,3D封装和异质整合技术广泛应用,传统验证流程面临挑战。SiConic解决方案提供统一的软硬件环境,助力工程师加速验证流程,提高可靠性、效率和协作能力。
据悉,已有多家IC客户及电子设计自动化(EDA)合作伙伴开始使用SiConic解决方案,共同应对SoC设计的高复杂性。
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赵辉
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