SICK推出新一代AI物件侦测解决方案,助力制造业升级
来源:ictimes 发布时间:2 天前 分享至微信
面对制造业中快速的生产节奏和复杂的产品瑕疵类型,传统影像处理技术已难以满足需求。特别是在电子和半导体产业,制程精密度高、生产速度快,品质要求严格,传统影像检测系统难以应对。
为解决这一挑战,SICK推出了新一代AI物件侦测功能,结合原有的AI异常检测和分类功能,形成完整的智能视觉检测解决方案。
该方案采用创新的边缘运算架构,配备4核心处理器和AI NPU,可直接在工业镜头进行AI模型训练,训练时间仅需5~10秒,大幅降低建置成本与复杂度。
Inspector83x智能工业镜头搭载NOVA软件平台,具备丰富的2D影像处理工具,并整合了三大核心AI功能:AI异常检测、AI分类和AI物件侦测。
其中,AI物件侦测功能可同步完成定位、分类与计量等多项任务,特别适合有众多类型、数量零组件的快速检测需求。
该镜头搭载500万像素CMOS传感器,提供高分辨率成像能力,并支持单色或彩色选项。系统采用C-mount镜头规格,并提供内建或外接光源选择,可根据实际需求调整视野范围与检测精度。
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