NVIDIA CEO黄仁勋坦诚芯片设计失误,感谢台积电援手
来源:ictimes 发布时间:2024-10-24 分享至微信

在丹麦哥本哈根访问期间,NVIDIA CEO黄仁勋接受路透社采访时表示,Blackwell芯片的设计瑕疵完全是NVIDIA的责任。


近日,有外媒炒作NVIDIA与台积电关系不和,但黄仁勋明确表示,Blackwell芯片生产延后是因为NVIDIA的设计问题。


黄仁勋强调,尽管NVIDIA的原始设计可以基本运作,但设计瑕疵导致良率偏低。他感谢台积电帮助NVIDIA克服产出困难,并以惊人的速度恢复Blackwell的生产进程。


黄仁勋的这一表态与业界的推测相符,即两厂工程师共同努力解决问题,提高良率。他此举不仅展现了与台积电的深厚交情,也在这个台积电卷入争议的时刻,送上了一份“暖风”。


作为科技巨头的NVIDIA,在Blackwell芯片积极出货的时刻,黄仁勳勇于承担设计错误,展现出了企业的担当。


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