是德科技最新推出电气结构测试仪（EST），专为半导体制造中的打线接合检测设计，确保元件品质无忧。

面对医疗、汽车等高密度芯片应用测试难题，EST采用纳米无矢量测试增强技术（nVTEP），精准识别细微缺陷，如导线下垂、近短路等，全面保障打线接合完整性。

EST亮点纷呈：高效检测各类电气与非电气缺陷，提升元件可靠性；支持量产，每小时可测72,000单元，生产力倍增；集成大数据分析，通过MaRT、DPAT、RPAT等技术优化产量。