在半导体材料领域，碳化硅（SiC）因其出色的物理与电学性能，正逐步成为高性能电力电子器件的优选材料。然而，SiC衬底的抛光工艺一直是制约其广泛应用的技术瓶颈，特别是在成本控制与环保要求方面。

近日，日本立命馆大学的研究团队带来了一项突破性成果——电化学机械抛光（ECMP）技术，该技术拥有 环保高效、高材料去除率、表面质量高三大技术优势，不仅大幅提升了抛光效率，还显著改善了环境友好性，为SiC材料的广泛应用开辟了新路径。

传统化学机械抛光（CMP）方法依赖于大量抛光液，不仅成本高昂，还对环境造成一定负担。而ECMP技术的出现，则彻底颠覆了这一现状。该技术通过电化学与机械作用的巧妙结合，实现了对SiC衬底的高效、环保抛光。

在ECMP过程中，SiC作为阳极，与阴极抛光板间夹有SPE/CeO2复合材料衬垫，通过施加偏置电压引发电解反应，生成一层易于去除的氧化膜，随后由CeO2颗粒进行机械去除。这一过程不仅避免了有害化学物质的使用，还实现了高达15µm/h的材料去除率（MRR），是传统CMP的十倍之多。

ECMP技术的成功，离不开对电解电流密度及机械条件的精细控制。研究团队通过一系列实验发现，电解电流密度与MRR呈正相关，但在超过一定阈值后趋于饱和；同时，机械条件的增强也显著提升了MRR，使得在高机械条件下几乎达到理论上的理想值。

此外，X射线光电子能谱（XPS）分析显示，高机械条件下的ECMP处理能有效去除表面残留氧化物，确保SiC衬底的光滑度与均匀性。实验结果表明，经过ECMP处理的SiC表面粗糙度可降至亚纳米级别，显示出极高的表面质量。