近日，思达科技隆重发布了全新3D/2.5D MEMS探针卡系列产品，这款创新产品专为WAT（晶圆验收）测试设计，再次巩固了思达科技在半导体测试领域的领先地位。

随着半导体行业对高性能和高可靠性的追求，WAT测试成为了评估芯片质量的关键环节。

思达科技此次推出的新款探针卡，不仅具备出色的电性量测能力，更在设计和结构上进行了全面优化，以满足不断增长的测试需求。

处女座Virgo-Prima系列探针卡支持宽温度范围测试，可覆盖从室温到150℃的多种应用场景。此外，该系列探针卡还支持多款主流测试仪器，为半导体制造商提供了更加灵活和高效的测试方案。

值得一提的是，该系列探针卡采用可更换测试头设计，能够轻松适应不同的PCB设计，大幅减少了对准时间，提高了测试效率。