泰克先进半导体开放实验室在北京举行盛大揭幕仪式，宣布推出全新升级的Version 2.0。宋磊总经理与业界专家高伟博士、侯喜峰副秘书长和郭大铭负责人共同见证了这一重要时刻。此次升级不仅提升了技术实力，更彰显了泰克对创新精神的追求。

作为测试测量领域的佼佼者，泰克针对第三代半导体测试需求，推出了全新的测试解决方案。升级后的实验室配备了先进的GaN器件开关测试、SiC功率器件短路测试等系统，以及全面的静态参数和电容参数测试系统，以满足客户不断增长的测试需求。

泰克创新实验室V2.0致力于打造一个开放、协作、共赢的生态平台，通过线上线下互动，促进行业内外的交流与合作。同时，泰克还与飞仕德、众力为、欧菲特等合作伙伴紧密合作，共同推动本土化测试方案的发展。

泰克推出的DPT1000A动态参数测试系统和SPT1000A静态参数测试系统，具备高测试带宽、低寄生参数等特点，广泛适用于Si MOSFET、IGBT、SiC、GaN等功率器件的测试。此外，HTXB-1000B动静态综合老化测试系统也进一步提升了测试效率和可靠性。

此次升级不仅提升了泰克在功率器件测试领域的竞争力，更展现了其对中国市场的深度承诺。泰克将继续携手合作伙伴，为客户提供优质、全面的测试服务，共同推动第三代半导体技术的快速发展。