【光电智造】光电采样的线扫描ToF相机,实现微纳器件的高速多维成像
来源:今日光电 发布时间:2023-03-01
分享至微信

今日光电
图2 线扫描ToF方法的轴向和横向分辨率分析
来源:中科院半导体所
申明:感谢原创作者的辛勤付出。本号转载的文章均会在文中注明,若遇到版权问题请联系我们处理。
----与智者为伍为创新赋能----

联系邮箱:uestcwxd@126.com
QQ:493826566
[ 新闻来源:今日光电,更多精彩资讯请下载icspec App。如对本稿件有异议,请联系微信客服specltkj]
存入云盘 收藏
举报
全部评论
暂无评论哦,快来评论一下吧!

今日光电
开创IC领域,共创美好未来!
查看更多
相关文章
新微半导体发布砷化镓光电探测器工艺平台
2025-06-17
联合光电拟全资收购长益光电,股票将停牌
2025-05-19
联合光电拟收购长益光电100%股份,股票停牌
2025-06-03
安徽华鑫微纳8英寸MEMS晶圆生产线预计6月投产
2025-05-13
京东方第6代新型半导体显示器件生产线实现全面量产
2025-05-28
热门搜索
高通进军数据中心市场
海光信息合并中科曙光
华为
台积电
中芯国际
联发科
高通
英特尔
芯片