【半导光电】金线生产工艺标准
来源:今日光电发布时间:2023-04-222654浏览
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一、 目的：建立基本的 wire bonding 标准，制定生产过程中产品合格／不合格的判断标准。
二、 范围：本标准只适用于金线球焊工艺。
三、 基本焊接条件：热压超声波焊接用于金线键合，所需的温度、压力、超声波功率及时间视不同机型、不同材料有很大不同，具体根据机型、材料特性科学设定。
四、 品质判断标准：
1） 球形标准，如下图所示：
① 球的直径：以2.5φ-3.5φ为标准 ，低于2.5φ为球小，大于3.5φ为球大。
② 球的厚度：以0.5φ-1.5φ为标准，低于0.5φ为球扁，大于1.5φ为球厚。
③ 球畸形：焊线偏离焊球中心超过1/2φ为球畸形。
注：以上φ为金线直径，以下类同。
2） 线形标准：
① 线形不良：线摆动以≤3φ、S 形≤2φ为标准，超过此标准为线形不良。线形摆动如下图所示
② 线受损：以≤1/4φ为标准，超过1/4φ为线受损不可接受。
③ 弧形标准：晶粒边距金线垂直距离至少1.5φ，少于1.5φ为线低；晶粒面距线形最高不超过 200um，如下图所示。
④ 跪线：如下图所示，圆圈处所指的金线贴在焊接表面上为跪线，不可接受。标准线形为圆圈处所指的金线与焊接表面应有一定角度。
3） 焊口标准：
① 焊口：长为0.8φ—1.5φ，宽为1.5φ—2.5φ，且瓷咀印必须完整，超出此规格范围为不可接受，如下图所示：
② 线尾：线尾长度必须≤1φ，大于1φ时为线尾长，不可接受。跪线 length：0.8φ—1.5φ width：1.5φ—2.5φ 瓷咀印
③ 虚焊、脱焊：焊球与Die面接触，焊口与Frame 表面接触，拉力测试为0时为虚焊；焊球或焊口中有一个不与焊接表面接触时为脱焊。如下图所示
4) 位置标准：
① 走位：球走位：焊球须在IC pad位置内或恰好压在 Pad 边上，超出pad位置为球走位。焊口走位：焊点须在PCB金手指内，焊口离金手指边至少 1φ。超出金手指 为焊口走位。
② 漏线：应焊线的位置没有焊线。
③ 焊错位：金线没有焊在指定 Pad 上而是焊在别的 Pad 上。
5） 拉力及推球标准：
① 拉力测试方法：拉力测试时以靠近焊球金线弧形最高处为基准，如下图所示：
金线拉力管制，如下表：
备注：23、23J 为同一直径的金线，对 SOT-54、SOT-23 产品 Wire bonding 时有两个引线方向，方向不同金线的管制拉力不同，用J来区分，其余类同。
③ 推球不良：推球时使用推球机做推力实验，推球力至少16g以上，金线在pad上残留量≥60%，不满足此规格为推球不良。
来源：半导体封装工程师之家
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