Nordson DAGE的X射线检测系统荣膺全球科技大奖
来源:大半导体产业网 发布时间:2011-11-29 分享至微信

X射线系统全球销售经理Keith Bryant评价说:“年复一年,荣获此类奖项证明Nordson DAGE X 光系统始终走在科技前沿。荣获该殊荣是Nordson DAGE整个团队矢志保持业内领先地位的结果。”

Nordson DAGE XD7600NT Diamond X射线是配置QuickView CT的最先进平板检测系统。该检测系统利用最新技术、平板探测器和成熟特性识别功能,是当今市场上最高质量X射线成像的绝佳之选。 

XD7600NT Diamond配置独特的Nordson DAGE NT免维护密封传导性X射线管,具有100纳米(0.1µm)特征识别和高达10瓦的功率,且配置了300万像素长寿命CMOS平板探测器,是实现即时成像最佳效能和最高放大率的理想选择。

“全球科技大奖”诞生于2005年,是对电子表面贴装领域的卓越产品进行表彰的年度活动。基于最佳创新科技进步的顶级产品由资深业内专家组评选而出。

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