和林微纳近期发布了Z系列射频芯片测试座，该产品凭借精密的机械结构设计和高品质材料，显著降低了信号损失与干扰，从而确保测试结果的高准确性。据官方资料显示，该系列测试座广泛应用于5G、功率放大器（PA）、射频开关（Switch）、Wi-Fi、低噪声放大器（LNA）、蓝牙（Bluetooth）以及音频芯片（Audio Chip）等领域。

从具体参数来看，该测试座支持≥0.3mm的引脚间距（Pitch），并具备≥3~5A的电流承载能力。其低电阻、低自感、高耐磨性以及自清洁功能进一步提升了产品的可靠性。此外，其插入损耗（Insert Loss S21）在15~40GHz频率范围内可达到-1dB，回波损耗（Return Loss S11）在11~40GHz范围内可达到-10dB。测试座适用于QFN/DFN和LGA封装类型，满足多种芯片测试需求。