爱德万测试70周年发布新方案,关注Rapidus 2纳米进度
来源:ictimes 发布时间:2024-12-17 分享至微信

2024年,爱德万测试迎来70周年庆典,并发布了最新的中期经营计划,目标未来3年设备市占率提升至58%以上。


在SEMICON Japan展会上,爱德万测试推出了多项创新测试解决方案,包括晶粒侦测机、宽频及高带宽射频芯片测试卡等,以满足高端存储器、5G、AI和HPC等前瞻应用的需求。


其中,V93000 EXA Scale平台板卡Wave Scale RF20ex备受瞩目,其测试频率范围扩大至100MHz至20GHz,具备2GHz瞬时带宽能力,可实现多站点测试并降低测试成本。


此外,针对第三类半导体故障检测难题,爱德万测试还研发了HA1100晶粒针测机,预计将于2025年第2季量产。


爱德万测试表示,半导体市场已进入复杂性时代,客户对自动化测试设备的要求不断提高。目前,其前三大市场分别为韩国、中国台湾和中国大陆,其中中国台湾地区营收在2024财年第2季较前一季增长8.45%。


此外,爱德万测试还关注Rapidus的2纳米芯片量产进度,期待未来能有更多日本本土客户,以有效分散地缘政治风险。

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