USB线缆连接器和EPR电弧问题讨论
来源:充电头网 发布时间:2023-01-17 分享至微信

USB PD是由USB 开发者论坛(USB-IF)建立的一种充电协议标准,该标准未制定时,USB端口供电规格被限制在5V,限制了USB的应用范围。USB PD标准的出现,增加了USB端的宽幅电压输出,大幅度提高USB的功率传输范围,扩大了USB PDType-C在各种产品上的应用范围。


但USB PD功率提高的同时带来了充电器与USB-C线之间的高温与损耗的问题。也是本次USB-C线缆高功率应用与安全保护方案技术研讨会聚焦的问题之一,即如何保证功率传输的不必要损耗和精准控制元件温度的问题。


随着USB PDType-C快充市场发生巨大变化,与欧盟有关统一便携智能设备充电接口的法案通过,迫使所有在欧洲销售的电子设备具有USB-C端口,推动了整个USB-C产业的发展,减少不必要的线缆和充电器的生产,降低电子垃圾的产生,USB-C线缆的市场统一,有助力实现双碳目标的和绿色可持续发展,最终实现社会价值和经济价值的共赢。


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充电头网在12月8日举办2022 USB-C 线缆高功率应用与安全保护方案技术研讨会全球线上直播,此次直播活动中,来自中国信通院泰尔终端实验室的魏明发表了“USB线缆连接器和EPR电弧问题讨论”的演讲,接下来是演讲的具体内容。


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此次演讲主要围绕Type-C连接器线缆技术标准和测试要求、USB-IF针对EPR应用的技术要求、EPR应用的挑战、EPR有关的三个试验这四个主题展开。


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USB接口供电能力的发展,当前主流供电档位有USB2.0、USB3.X、USB4、BC1.2、Type-C、PD3.0、PD3.1。所支持的功率从2.5W至240W。


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Type-C线缆和连接器技术标准与Type-C线缆和连接器测试标准详细参数介绍。提出问题:为了应对240W需求,USB-IF对线缆和连接器测试有何新要求?


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对于Type-C线缆测试内容介绍,测试内容包括视觉检查(pin)、视觉检查(结构)、机械性能、低速信号SI、高速信号SI、屏蔽性能、关键尺寸、电流升温、弯曲,如上图所示。


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Group A(EIA-364-1000.01)-连接器测试项目与测试内容,如上图所示。


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Group B-线束测试项目与测试内容,如上图所示。


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Type-C线缆测试所要用到的设备,包含混合气体箱、环境测试设备、可靠性测试设备、信号完整性测试设备,如上图所示。


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演讲第二部分,USB-IF对EPR应用的技术要求。


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技术要求1:Type-C线缆和连接器规范。Type-C v2.1要求在连接器断开时,Sink必须保证在250us内,Vbus压差不超过12V。


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技术要求2:Type-C线缆和连接器规范。线缆弯折测试由100次改为500次;在高频参数上,针对Gen3,Gen2,Gen1给出细分要求;增加A8测试(Gen3母座高频测试);增加B8测试(Gen3线缆高频测试);增加母座连接器EMC弹片、内部EMC金属Pad和外壳凸包等结构要求。


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技术要求3:PD3.1 EPR的保护措施。严格的EPR模式进入和退出机制;最终进入到EPR模式后,才可以使用20V以上电压;进入EPR后,全程进行类似看门狗监控,如果没有收到对方的KEEP Alive信号,则进行复位,退出EPR模式;监控周期为0.23-0.5秒,发现异常而退出EPR的时间在几百毫秒至1秒数量级。


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演讲第三部分,EPR应用挑战-电弧抑制。


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因热插拔时会产生电弧,更高的电压差会产生更高能量的电弧,在240W负载情况下进行热插拔,VBUSpin会产生显著的电弧,导致连接器融化烧毁。


EPR的安全应用,必须依靠SOURCE,CABLE,SINK这三者之间系统性配合来抑制或减小电弧,才能安全使用。


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电弧产生原理,当线缆在工作时被拔出后,Source侧Vbus还保持供电,且因突然失去负载,稳压电源进行调整,还导致Vp电压升高并保持一段时间以后才关断;线路中因电流骤减,发生电感反冲,导致Vp电压升高;Sink侧因突然失去Source供电,本地电容迅速放电,并导致VR电压降低。


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电弧产生原理示意图,原理如上。


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Type-C v2.1要求在连接器断开时,Sink必须保证在250us内,Vbus压差不超过12V。


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电弧问题处理思路:


1、增加SINK的电容量;2、通过检测CC线状态,监测线缆拔出的发生,及时去除SINK的负载;通过监测CC线或负载电流的变化,监测线缆拔出事件的发生,及时关断电源和电容。


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演讲第四部分,介绍EPR有关的三个试验。


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实验1:Type-C温升和带载拔出,提供一个50V@5A的测试环境,使用2台直流电源和1台电子负载,2台直流电源串联连接。


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实验过程:使用热电偶、温度记录仪配合温升测试板测量工作温度;系统通过功率50V×5A=250W,稳定运行十分钟,最高温度30摄氏度。


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实验结果:带载拔出2次后发出焦味,A4/B9pin接触面发黑。


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实验2,USB3.2 STD-A连接器带载拔出实验,实验思路:STD-A连接器物理尺寸大,Spec要求30毫欧接触电阻,比Type-C的40毫欧更佳,可否禁受住240W电弧。实验设置:100W,150W,200W,240W带载拔出测试,寻找A口极限。


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实验结果如上图所示,在240W时,带载拔出7次后,Vbus pin烧融。


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实验3,PD65W充电时,带载拔出线缆,充电器测Vbus和CC电压观测的情况如上图所示,黄色代表Vbus,蓝色代表CC,CC terminal断开到Vbus 关断的时间为15.32ms。


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笔记本测VBUS和CC电压观测的情况,黄色代表VBUS,蓝色代表CC。CC terminal 断开到Vbus关断的时间为1.33ms。得出结论CC线可以用于监测拔出事件。


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通过以上三组实验得到的总结与思考。


1、以上试验属于极端情况,没有任何抑制电弧的措施。


2、TYPE-C和TYPE-A在没有进一步措施的情况下,都无法满足240W带载拔出的要求。


3、监控CC线状态可以及时发现连接器拔出状态,客服有实用方案?


4、未来是否会有更好更强的连接器?


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以上就是来自中国信通院泰尔终端实验室的魏明在12月8日举办的2022 USB-C 线缆高功率应用与安全保护方案技术研讨会所发表的“USB线缆连接器和EPR电弧问题讨论”的演讲,有兴趣者可以与其联系。


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