多发连续冲击波超压智能存储测试系统-icspec

多发连续冲击波超压智能存储测试系统

来源:电子技术应用ChinaAET 发布时间:2023-01-04

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作者：

王毛凯，王文廉，王玉

作者单位：

1.中北大学仪器科学与动态测试教育部重点试验室，山西太原030051。

摘要：

针对连发作战试验的复杂环境，研究一种基于SRAM和Flash的多发连续冲击波智能存储测试系统。该系统以FPGA为核心控制器，利用采集存储技术结合信号触发识别、标记，实现了连续冲击波的多通道智能存储。对4路压阻式传感器的信号调理实现基线自动调节，保证了系统的灵活性与适用性;对SRAM分区存储管理、对Flash进行流水线存储实现了数据的多通道多触发次数下的快速存储。实验结果表明：测试系统可实现4个通道、1MS/s采样速率、连续32次触发下的信号智能存储，可应用于作战试验中的连续爆炸冲击波测试。

引言：

作战试验是指在可控、可测的虚拟作战环境中运用作战模拟原理研究作战问题的一种军事实践活动，连发作战试验是一种特殊的作战试验^[1]，需要在试验过程长且环境复杂的背景下，从多个角度精确地记录下每次爆炸所产生的冲击波信号^[2]，并对其进行处理。然而常规的存储测试系统通常是针对一次爆炸进行冲击波信号记录^[3-4]，需要频繁地对测试系统进行指令操控以及数据读取，才能实现有效信号的多次记录，效率较低；不仅如此，常规的存储测试系统并没有基线调节功能，测试环境以及传感器灵敏度会影响测试系统基线，不仅导致测试系统误触发或者不触发，而且不利于对信号的处理分析^[5]。

针对连发作战试验的需求，本文设计了一种基于SRAM和Flash的多发连续冲击波智能存储测试系统^[6-8]。该系统具备自动调节基线功能，保证了系统的灵活性与适用性，能够适用各种复杂环境；利用FPGA模块化、多线程的工作模式^[9-10]，对存储进行分区管理^[11]，利用负延时技术结合信号触发识别技术实现多发连续冲击波的多通道智能存储^[12]。

文章来源：《电子技术应用》杂志11月刊

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