泛华测控参加第六届国际测试自动化与仪器仪表学术会议
来源:电子产品世界 发布时间:2016-10-10 分享至微信
9月19日~21日,由中国仪器仪表学会和北京信息科技大学主办的“2016第六届国际测试自动化与仪器仪表学术会议”在北京召开,泛华受邀携便携式测试平台(TU-9106)及助力于智慧研究所的测试数据管理平台(Data On Demand)参加活动,并做题为《打造智慧研究所的关键技术》的演讲。
本文引用地址:http://www.eepw.com.cn/article/201610/311115.htm
[ 新闻来源:电子产品世界,更多精彩资讯请下载icspec App。如对本稿件有异议,请联系微信客服specltkj]
存入云盘 收藏
举报
全部评论
暂无评论哦,快来评论一下吧!
电子产品世界
开创IC领域,共创美好未来!
查看更多
相关文章
SK海力士成功举办第六届创新专利奖颁奖典礼
2024-11-11
达详与ABB携手,深耕金属加工自动化
2024-12-24
尚立拓展印度市场,布局智能医疗与无人自动化
2024-12-24
YC提出9大新创需求,聚焦AI与自动化技术
2024-11-14
越南VinGroup成立VinRobotics,进军自动化技术
2024-11-22
热门搜索