全新测试卡扩展了4500-MTS多通道I-V测试系统的功能并降低测试成本
来源:电子设计应用发布时间:2021-10-30567浏览
询问 AIKeithley仪器公司（NYSE: KEI）日前宣布，推出适用于4500-MTS多通道I-V测试系统的两款全新的多通道源－测量测试卡，这两款新品的操作量程都得到了扩展。对于4500-MTS PCI主机9个插槽中的任何一个，每一个4510-及4511-QIVC（Quad I-V卡）都可以提供4个源－测量通道，因此一共可以实现多达36个I-V测量通道。4500-MTS及其Quad I-V卡可以在很短的时间内完成这些测量，而且成本仅为同样的分立仪器系统的很小一部分。
4500-MTS用于多头（多DUT）生产测试环境的自动测试，如那些涉及到应力测量、使用寿命测量、以及一般设备特性的环境。该系统通常的应用情况为：利用其快速的源测量的性能产生I-V曲线，测量诸如MEMS以及电路保护二极管等DUT的电阻，以对其它无源和有源器件的特性。该系统作为多通道的电源也具有广泛的用途，可以在器件（如RFIC以及光电IC）的功能测试中输出电压和电流或测量电压和电流。吉时利以及其它公司的许多仪器都可以与4500-MTS搭配实现其I-V和电源供电的性能。
应用背景。4500-MTS可以解决生产商面临的棘手的测量难题，它可以帮助生产商在不同的测试条件下，对多个器件进行测试或者对一个器件上的不同通道同时进行测试。通常情况下，一台测试夹具上会加装一打甚至更多的器件，而且要在每一台设备的成千个源-测量测试点上采集电气数据。在这些情况下使用多个独立仪器的成本是非常高的，而且总线上的数据交流还会减慢数据采集的速度。
4500-MTS用于多头（多DUT）生产测试环境的自动测试，如那些涉及到应力测量、使用寿命测量、以及一般设备特性的环境。该系统通常的应用情况为：利用其快速的源测量的性能产生I-V曲线，测量诸如MEMS以及电路保护二极管等DUT的电阻，以对其它无源和有源器件的特性。该系统作为多通道的电源也具有广泛的用途，可以在器件（如RFIC以及光电IC）的功能测试中输出电压和电流或测量电压和电流。吉时利以及其它公司的许多仪器都可以与4500-MTS搭配实现其I-V和电源供电的性能。
应用背景。4500-MTS可以解决生产商面临的棘手的测量难题，它可以帮助生产商在不同的测试条件下，对多个器件进行测试或者对一个器件上的不同通道同时进行测试。通常情况下，一台测试夹具上会加装一打甚至更多的器件，而且要在每一台设备的成千个源-测量测试点上采集电气数据。在这些情况下使用多个独立仪器的成本是非常高的，而且总线上的数据交流还会减慢数据采集的速度。
与其它模块化测试系统不同，4500-MTS多通道I-V测试系统具有低噪音和高电流源的特点，并可以同时在高灵敏度测量中保持良好控制环境。它有助于在不降低质量目标和生产产量的前提下降低生产成本。
产品详情。4510或4511 Quad I-V卡的每一个通道都可以提供一个高功率电流源子通道、一个低功率电压源子通道、以及一个用于读取DUT对源激励反应的5-1/2位模拟-数字转换器。4510型卡具有三个全刻度输出量程，分别为±30mA、±100mA和±500mA。4511型卡具有的三个全刻度输出量程分别为±100mA、±300mA和±1.0A。除此之外，这两种卡是完全相同的，包括它们的±10VDC全刻度电压源子通道。每一个卡上还有一个微控制器，运行实时操作系统及板上的测量存储，因此测试次序中它可以自发的活动或通过触发总线为源测量活动计时以实现与其它4500系列测试卡的同步工作。每一个子通道都具有机械继电器以隔离输出和测量DUT电路，因此实现电流源子通道和电压源子通道之间的多路工作。
这些测试卡扩展了早前4500型Quad I-V卡的功能。低噪音电压源子通道的最大输出已经从5V增加到了10V。对这些子通道电流测量的灵敏度也提高到了10
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